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  • 成品測試

    上海華嶺提供先進的成品測試解決方案,通過自主OCR系統,可實現測試數據與成品對應的溯源功能,測試平臺來自國際先進供應商,測試能力涵蓋3 mm x 3 mm~70 mm x 70 mm的產品,涵蓋以下封裝類型:QFP、LQFP、TQFP、QFN、DFN、BGA、LGA、CSP、SIP、POP,測試溫度-55℃~125℃
    主要性能

    定制化設備及裝置、OCR mark自動識別

    億門級可編程器件、CPU三溫自動測試

    BGA、QFP、QFN等先進封裝

    -55℃ 到+125℃寬溫高可靠檢測

    測試平臺

      數字/混合/SOC

    • 泰瑞達 UltraFLEX
    • 泰瑞達 J750HD (LitePoint)
    • 泰瑞達 J750EX
    • 泰瑞達 J750
    • 愛德萬 V93000
    • 愛德萬 T2000
    • 悅芯 T800

      存儲器

    • 泰瑞達 Magnum2
    • 愛德萬T5830
    • Credence P Kalos II

      汽車電子、電源產品

    • 泰瑞達 ETS88
    • AccoTEST STS8200
    • Verigy V50
    • TRI TR6800
    • JUNO DTS1000

      CIS/MEMS

    • 泰瑞達 IP750
    • 自研設備

      機械手系統

    • EPSON NS8080SH(~125℃)
    • 四方 CR3601C(-55℃~150℃)
    • 四方 CR3601D(-55℃~150℃)
    • 四方 CR7300(~150℃)
    • 中藝 CT580(~150℃)

    系統級測試

    隨著半導體在汽車、工業、醫療等各種對安全極為敏感的領域得到日益廣泛的應用,同時復雜的新技術增加了SoC、SiP和軟件的復雜性,這些趨勢引進了更多潛在故障和新故障模型,通過系統級測試可以滿足故障捕獲的目的。

    老化篩選

    上海華嶺提供各種封裝形式產品的老化服務,包括存儲器、CPU、FPGA和其他大規模集成電路產品。根據客戶需要,協同華嶺合作伙伴,可提供完整JEDEC標準可靠性篩選服務。

    主要性能

    壽命測試

    早期失效等級測試

    高/低溫操作生命期試驗

    環境測試

    預處理測試

    加速式溫濕度及偏壓測試

    高加速溫濕度及偏壓測試

    高低溫循環試驗

    高低溫沖擊試驗

    耐久性測試

    周期耐久性測試

    數據保持力測試

    愿景

    成為全球集成電路專業測試最有價值企業

    使命

    專心、專注、專業,打造芯片信任基石

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