无遮挡裸体免费视频网站

  • 技術與服務

    Technology and service
    首頁 -技術與服務 -成品測試
    技術創新 晶圓測試 成品測試 IT服務

    成品測試

    上海華嶺提供先進的成品測試解決方案，通過自主OCR系統，可實現測試數據與成品對應的溯源功能，測試平臺來自國際先進供應商，測試能力涵蓋3 mm x 3 mm~70 mm x 70 mm的產品，涵蓋以下封裝類型：QFP、LQFP、TQFP、QFN、DFN、BGA、LGA、CSP、SIP、POP，測試溫度-55℃~125℃
    主要性能

    定制化設備及裝置、OCR mark自動識別

    億門級可編程器件、CPU三溫自動測試

    BGA、QFP、QFN等先進封裝

    -55℃ 到+125℃寬溫高可靠檢測

    測試平臺

      數字/混合/SOC

    • 泰瑞達 UltraFLEX
    • 泰瑞達 J750HD (LitePoint)
    • 泰瑞達 J750EX
    • 泰瑞達 J750
    • 愛德萬 V93000
    • 愛德萬 T2000
    • 悅芯 T800

      存儲器

    • 泰瑞達 Magnum2
    • 愛德萬T5830
    • Credence P Kalos II

      汽車電子、電源產品

    • 泰瑞達 ETS88
    • AccoTEST STS8200
    • Verigy V50
    • TRI TR6800
    • JUNO DTS1000

      CIS/MEMS

    • 泰瑞達 IP750
    • 自研設備

      機械手系統

    • EPSON NS8080SH（~125℃）
    • 四方 CR3601C（-55℃~150℃）
    • 四方 CR3601D（-55℃~150℃）
    • 四方 CR7300（~150℃）
    • 中藝 CT580（~150℃）

    系統級測試

    隨著半導體在汽車、工業、醫療等各種對安全極為敏感的領域得到日益廣泛的應用，同時復雜的新技術增加了SoC、SiP和軟件的復雜性，這些趨勢引進了更多潛在故障和新故障模型，通過系統級測試可以滿足故障捕獲的目的。

    老化篩選

    上海華嶺提供各種封裝形式產品的老化服務，包括存儲器、CPU、FPGA和其他大規模集成電路產品。根據客戶需要，協同華嶺合作伙伴，可提供完整JEDEC標準可靠性篩選服務。

    主要性能

    壽命測試

    早期失效等級測試

    高/低溫操作生命期試驗

    環境測試

    預處理測試

    加速式溫濕度及偏壓測試

    高加速溫濕度及偏壓測試

    高低溫循環試驗

    高低溫沖擊試驗

    耐久性測試

    周期耐久性測試

    數據保持力測試

    愿景

    成為全球集成電路專業測試最有價值企業

    使命

    專心、專注、專業，打造芯片信任基石

    copyright 2021 版權所有：上海華嶺集成電路技術股份有限公司 備案號：滬ICP備13005822號-1
    華嶺官微
    技術支持：億韻商務
    Top 无遮挡裸体免费视频网站